Skip to content

Thickness Measurement

I sistemi di Thickness Measurement DDL consentono il controllo continuo dello spessore dei pannelli XPS lungo la linea di post-processing.

L’esperienza maturata nel settore XPS, unita alle competenze meccaniche ed elettroniche interne, ha portato allo sviluppo di sistemi di misura progettati per supportare la stabilità e il miglioramento del processo produttivo.

Il sistema rileva cinque zone del pannello ogni secondo, fornendo per ciascuna il valore di spessore rilevato.
Nel caso in cui i valori misurati non rientrino nei parametri impostati dall’operatore, il sistema segnala immediatamente la condizione tramite allarme visivo e acustico.

Questo approccio consente un intervento tempestivo sul processo, riducendo scarti e deviazioni produttive.

I calibri laser per la misurazione dello spessore sono disponibili in versione fissa o mobile, in funzione delle esigenze di controllo e del layout di linea.

I sistemi mobili garantiscono una misurazione più accurata, mentre i sistemi fissi rappresentano una soluzione efficace per il monitoraggio continuo del processo lungo la post-processing line.

Tutti i dati di misurazione vengono memorizzati e possono essere consultati successivamente per un’analisi approfondita del processo produttivo.

  • precisione di misura pari a 0,1 mm;
  • velocità di acquisizione fino a 100 letture al secondo.

Vuoi integrare un sistema di controllo dello spessore nel tuo impianto XPS?