I sistemi di Thickness Measurement DDL consentono il controllo continuo dello spessore dei pannelli XPS lungo la linea di post-processing.
L’esperienza maturata nel settore XPS, unita alle competenze meccaniche ed elettroniche interne, ha portato allo sviluppo di sistemi di misura progettati per supportare la stabilità e il miglioramento del processo produttivo.
Il sistema rileva cinque zone del pannello ogni secondo, fornendo per ciascuna il valore di spessore rilevato.
Nel caso in cui i valori misurati non rientrino nei parametri impostati dall’operatore, il sistema segnala immediatamente la condizione tramite allarme visivo e acustico.
Questo approccio consente un intervento tempestivo sul processo, riducendo scarti e deviazioni produttive.
I calibri laser per la misurazione dello spessore sono disponibili in versione fissa o mobile, in funzione delle esigenze di controllo e del layout di linea.
I sistemi mobili garantiscono una misurazione più accurata, mentre i sistemi fissi rappresentano una soluzione efficace per il monitoraggio continuo del processo lungo la post-processing line.
Tutti i dati di misurazione vengono memorizzati e possono essere consultati successivamente per un’analisi approfondita del processo produttivo.
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